System mikroskopu elektronowego skaningowego z mikroskopem ramanowskim

Poszerzenie zrozumienia zagadnień skali nanometrowej

Mikroskop z sondą skanującą w nanotechnologii połączony z mikroskopem ramanowskim (AFM-Raman) (znany także jako system SPM-Raman) umożliwia przeprowadzanie udoskonalonej analizy próbek poprzez badanie właściwości chemicznych i strukturalnych materiałów w zakresach odległości submikrometrowych.

Firma Renishaw opracowała zoptymalizowaną technikę takiego bezpośredniego sprzęgania, co powoduje, że mikroskop ramanowski inVia jest doskonałym partnerem do łączenia z wieloma różnymi mikroskopami z sondą skanująca (SPM), oferując możliwości spektroskopii ramanowskiej ze wzmocnieniem ostrzowym (TERS), techniki pola bliskiego (SNOM, NSOM) oraz mikroskopii ramanowskiej w połączeniu z mikroskopią sił atomowych (ATM).

inVia Raman oferuje nieograniczone możliwości połączenia z dowolnym urządzeniem typu SPM lub AFM dostępnym na rynku. Jako w pełni zintegrowane systemy dostępne są wraz z urządzeniami oferowanymi przez NT-MDT oraz Nanonics Imaging Ltd.

Systemy wizualizacji i analizy w nanotechnologii dla badań i przemysłu

Maksymalizacja wydajności

Tylko firma Renishaw może oferować w pełni zintegrowane systemy z mikroskopami skaningowymi NT-MDT i Nanonics Imaging Ltd.. System Raman-SPM firmy Renishaw zapewnia:

• Więcej czasu dla Ciebie dzięki zintegrowaniu systemów - integracja mechaniczna i programowa jest pełna, co umożliwia skupienie uwagi na zbieraniu i analizie danych.
• Szybsze zbieranie danych - bezpośrednie sprzężenie pomiędzy próbką i spektrometrem ramanowskim zapewnia optimum wydajności dla wszystkich konfiguracji.
• Zaufaj ekspertom - pierwsze pomiary metodą TERS wykonane na materiałach półprzewodnikowych (opublikowano 2001) oraz pierwsze pomiary typu Raman-AFM/NSOM ( opublikowano 1995) zostały wykonane przy użyciu systemów ramanowskich firmy Renishaw.
• Ty wybierasz - Renishaw ma stosowne doświadczenie i wiedzę, aby dokonać integracji z systemem SPM, jaki wybierzesz.

Co można uzyskać od systemu Raman-SPM firmy Renishaw?

Mikroskop sił atomowych (AFM) z mikroskopem ramanowskim
Możesz zbierać dane sondy skanującej o wysokiej rozdzielczości przestrzennej, połączone z szybkimi danymi ramanowskimi dalekiego pola (zazwyczaj o submikrometrowej rozdzielczości). Dane ramanowskie mogą być rejestrowane i korelowane z danymi topograficznymi, elektrycznymi, termicznymi oraz optycznymi dalekiego pola, o wysokiej rozdzielczości przestrzennej.

W przypadku analizy próbki grafenu, analiza ramanowska (patrz obraz z prawej strony) identyfikuje pięć odrębnych grubości grafenu, w tym region jednowarstwowy i dwuwarstwowy. Dane ramanowskie były wykorzystane do kierowania eksperymentami SPM, umożliwiając wykonanie pomiarów topograficznych, pojemnościowych i przewodnościowych w interesujących obszarach.

Wzmacniana ostrzem spektroskopia ramanowska (TERS) lub bezaperturowa spektroskopia ramanowska pola bliskiego
Do wzmocnienia sygnału ramanowskiego jest wykorzystywane ostre zakończenie w dokładnie zlokalizowanym rejonie próbki na większym obszarze oświetlanym światłem lasera. Taka konfiguracja zapewnia najwyższą rozdzielczość przestrzenną każdej techniki ramanowskiej.

Doskonałą rozdzielczość przestrzenną, jaką oferuje pomiar TERS, można zademonstrować wykorzystując materiały uwarstwione. Na ilustracji można porównać widmo pola bliskiego (TERS) z widmem pola dalekiego cienkiej warstwy krzemu na SiGe. Doskonała czułość powierzchniowa pomiaru TERS generuje znacznie intensywniejsze pasmo ramanowskie krzemu (przy niższej częstotliwości ramanowskiej niż pasmo ramanowskie dla SiGe w masie).

Aby odkryć, jak ta technologia może poszerzyć Twoje zrozumienie zagadnień nanoskali albo dowiedzieć się więcej o integrowaniu dowolnego modelu systemu SPM bądź AFM z mikroskopem ramanowskim inVia, wypełnij formularz zgłoszenia online albo skontaktuj się ze specjalistą w dziedzinie spektroskopii ramanowskiej lokalnego biura Renishaw.