Interfejs inLux™ SEM-Raman
Uniwersalne rozwiązanie do analizy SEM-Raman in-situ
Innowacyjny interfejs inLux™ SEM-Raman umożliwia wykonywanie badań ramanowskich w komorze mikroskopu skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM). Teraz można zbierać widma Ramana, na podstawie których zostaną utworzone obrazy 2D i 3D, przy jednoczesnym obrazowaniu SEM. Próbka pozostaje nieruchoma między trybami obrazowania SEM i zbierania danych ramanowskich, co daje pewność precyzyjnej lokalizacji wzajemnej podczas porównywania obrazów ramanowskich i obrazów SEM.
Interfejs inLux obsługuje wiele funkcji Ramana. Można zbierać widma z pojedynczych punktów, wielu punktów lub generować konfokalne obrazy ramanowskie 2D i 3D. Interfejs inLux standardowo obsługuje te wszystkie funkcje, umożliwiając analizę objętości większych niż 0,5 mm w każdej osi. Jest wyposażony w enkodery i zapewnia pełną kontrolę położenia, z dokładnością do 50 nm. Dzięki temu uzyskuje się obrazowanie Ramana.
Główne korzyści
- Bogactwo informacji — analiza Ramana, fotoluminescencji (PL) i katodoluminescencji widmowej (CL) odbywa się jednocześnie i współbieżnie z obrazowaniem SEM.
- Uniwersalność — interfejs inLux można montować na szerokiej gamie mikroskopów SEM różnych producentów, z różnymi rozmiarami komór i bez konieczności modyfikowania ich konstrukcji.
- Nieinwazyjność — sondę inLux można całkowicie schować jednym kliknięciem. Dzięki temu nieużywana w danym momencie sonda nie zakłóca innych funkcji mikroskopu SEM ani przebiegu pracy.
- Określenie rozkładu — konfokalne obrazy ramanowskie można generować standardowo, co umożliwia łatwy pomiar heterogeniczności próbki.
- Podgląd próbek — optyczne obrazowanie dużych obszarów i ich montaż w celu wizualizacji próbki i wyznaczenia obszarów zainteresowania.
- Możliwość konfigurowania — do dwóch różnych długości fal wzbudzenia lasera oraz opcjonalny moduł CL.
- Automatyzacja — przełączanie długości fali lasera jednym kliknięciem w celu analizy ramanowskiej trudnych próbek.
Zastosowania interfejsu inLux
Identyfikacja zanieczyszczeń
Spektroskopia ramanowska jest bezdotykową i nieniszczącą techniką badawczą, która może dostarczyć informacji o składzie chemicznym o wysokiej swoistości, co czyni ją idealną do identyfikacji zanieczyszczeń. Spektroskopia ramanowska szczególnie nadaje się do analizy zanieczyszczeń organicznych i węglowych, które byłyby trudne do rozróżnienia przy użyciu analizy elementarnej. Mikroskopu SEM można użyć do lokalizowania i badania morfologii małych cząstek zanieczyszczeń, które nie zostaną wykryte przez mikroskop optyczny. Następnie cząstki te można bezpośrednio skierować do analizy ramanowskiej za pomocą interfejsu inLux, bez konieczności przemieszczania próbki.
Analiza materiałów
Wiele nowych właściwości materiałów wynika z ich wielkości, kształtu lub grubości. W wypadku grafenu, nanoprętów i nanorurek duże powiększenie skaningowej mikroskopii elektronowej jest niezbędne do wizualizacji próbki. Oprócz ujawnienia chemicznej i strukturalnej natury materiału, analiza ramanowska może również dostarczyć informacji na temat właściwości fizycznych. Interfejs inLux umożliwia tworzenie obrazów ramanowskich ilustrujących krystaliczność, odkształcenie i właściwości elektroniczne, które można skorelować z obrazami uzyskanymi w technice SEM.
Połączenie z różnymi systemami Ramana firmy Renishaw
Interfejsu inLux używa się w połączeniu z spektrometrami ramanowskimi klasy badawczej i oprogramowaniem firmy Renishaw. Zapewnia to wszechstronne możliwości przetwarzania i analizy, a jednocześnie jest intuicyjnie proste w obsłudze. Interfejs inLux pomoże w pełnym wykorzystaniu mikroskopu SEM — od identyfikacji zanieczyszczeń w przemyśle po badania akademickie.
Analizator ramanowski Virsa™
W przypadku konkretnej analizy ramanowskiej interfejs inLux można podłączyć do analizatora ramanowskiego Virsa. Analizator Virsa jest niewielkim i ekonomicznym rozwiązaniem przeznaczonym do analizy ramanowskiej in-SEM. Montuje się go w stojaku. Charakteryzuje się wysoką czułością i rozdzielczością widmową oczekiwaną od systemu ramanowskiego klasy badawczej.
Dowiedz się więcej o analizatorze Virsa
Ramanowski mikroskop konfokalny inVia™
Podłącz interfejs inLux do konfokalnego mikroskopu ramanowskiego inVia, aby dodać analizę in-SEM do najlepiej sprzedającego się na świecie mikroskopu ramanowskiego klasy badawczej. Mikroskop inVia oferuje najlepszą na świecie wydajność i czułość w konfigurowalnym zakresie długości fal wzbudzenia lasera, detektorów i siatek dyfrakcyjnych. Jest idealnym narzędziem do badania materiałów nadających się do analizy ramanowskiej. Mikroskopu inVia można używać niezależnie do analizy ramanowskiej. Skaningowy mikroskop elektronowy SEM może być dostępny dla innych użytkowników, gdy nie są wymagane pomiary in situ.
Dowiedz się więcej o mikroskopie ramanowskim inViaDowiedz się więcej
Opowiedz nam o swojej konfiguracji SEM. W ten sposób sprawdzimy, czy posiadany skaningowy mikroskop elektronowy jest zgodny z interfejsem inLux SEM-Raman. Wypełnij krótki formularz, klikając poniższe łącze, a jeden z naszych ekspertów skontaktuje się z Tobą.
Zarejestruj się teraz, aby obejrzeć całe seminarium internetowe na żądanie
Pliki do pobrania: interfejs inLux SEM-Raman
-
Brochure: inLux™ scanning electron microscope Raman interface [en]
The innovative inLux SEM Raman interface brings high-quality Raman functionality to your SEM chamber. Now you can collect Raman spectra that can produce images in 2D and 3D whilst simultaneously imaging in SEM.
Dane techniczne
| Parametry | Wartość |
| Masa | < 20 kg |
| Długość kabla światłowodowego | 4,6 m |
| Zgodne spektrometry ramanowskie | Konfokalny mikroskop ramanowski inVia, analizator Virsa firmy Renishaw |
| Zgodne modele SEM | Zgodność z modelami wszystkich głównych dostawców mikroskopów SEM |
| Wymagania dotyczące portu SEM | Wymaga wolnego bocznego lub tylnego portu SEM |
| Wydajność przetwornika SEM | Interfejs inLux nie wymaga żadnych modyfikacji mikroskopu SEM. Nieużywany interfejs można całkowicie schować, dlatego też nie zakłóca działania mikroskopu SEM ani innych akcesoriów. |
| Sterowanie ruchem | Gładzik trackpad, oprogramowanie WiRE |
| Zabezpieczenie przed zetknięciem | Czujnik zetknięcia, bezpieczna przestrzeń robocza monitorowana za pomocą enkoderów absolutnych |
| Bezpieczeństwo pracy z urządzeniami laserowymi | Laser połączony z komorą próżniową |
| Mapowanie/obrazowanie ramanowskie | Dostarczane jako standard |
| Dobór modułu światłowodowego | Do dwóch różnych długości fal wzbudzenia lasera oraz opcjonalny moduł katodoluminescencyjny |
| Dostępne długości fal wzbudzenia lasera | 405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (inne są dostępne na życzenie) |
| Przełączanie lasera | Zautomatyzowane, z napędem i sterowane z poziomu oprogramowania |
| Poprzeczna rozdzielczość przestrzenna | < 1 µm przy 532 nm |
| Wydajność konfokalna | < 6 µm przy 532 nm |
| Rozdzielczość widmowa | Patrz arkusz specyfikacji spektrometru |
| Wymiary | 804 mm x 257 mm x 215 mm (szer. X wys. X gł.) |