Systemy hybrydowe Ramana
Zwiększ możliwości mikroskopu ramanowskiego firmy Renishaw, łącząc go z systemami analitycznymi wielu innych producentów.
Dzięki systemom skorelowanych mikroskopów możesz zawsze mieć pewność, że w obu technikach analizujesz zawsze ten sam punkt.
Skontaktuj się z nami
SPM/AFM: rozdzielczość nanometrów
Połącz mikroskop ramanowski inVia™ z sondą skanującą (SPM), jak np. mikroskopem sił atomowych (AFM), w celu badania właściwości chemicznych i strukturalnych materiałów. Dodaj rozdzielczość chemiczną w skali nanometrowej wraz z badaniami wzmocnionego rozproszenia Ramana na ostrzu sondy AFM (TERS) i odkryj informacje uzupełniające, jak np. właściwości mechaniczne.
Test twardości w skali nano: pomiary właściwości mechanicznych
Połącz wydajność mikroskopu ramanowskiego inVia z pomiarami twardości w skali nano i koreluj bezpośrednio właściwości mechaniczne i trybologiczne z danymi chemicznymi jak np. krystaliczność, polimorfizm, faza i naprężenia.
Przeczytaj artykuł zamieszczony w magazynie Microscopy and Analysis Journal
-
Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]
A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.
Chcesz dowiedzieć się więcej?
Lokalny przedstawiciel pomoże znaleźć odpowiedzi na zadane pytania.
Możesz skontaktować się z zespołem, wypełniając formularz lub wysyłając wiadomość e-mail.
Pobierz najnowsze aktualizacje
Bądź na bieżąco z nowościami, wiadomościami, seminariami, notami aplikacyjnymi i premierami produktów, dostarczanymi bezpośrednio do Twojej skrzynki odbiorczej.