Omiń nawigację

Systemy połączone/hybrydowe Ramana

Zwiększ wydajność analityczną mikroskopu inVia firmy Renishaw, łącząc go z systemami analitycznymi wielu innych producentów.

Maksymalizuj wydajność, analizując próbkę dwiema lub więcej technikami bez przenoszenia próbki między przyrządami. Dzięki systemom skorelowanych mikroskopów możesz zawsze mieć pewność, że w obu technikach analizujesz zawsze ten sam punkt.

SPM/AFM: rozdzielczość nanometrów

Połącz mikroskop inVia z mikroskopem z sondą skanującą (SPM), jak np. mikroskopem sił atomowych (AFM), w celu badania właściwości chemicznych i strukturalnych materiałów. Dodaj rozdzielczość chemiczną w skali nanometrowej wraz z badaniami TERS i odkryj informacje uzupełniające, jak np. właściwości mechaniczne.

SEM: obrazy w dużym powiększeniu oraz analiza elementarna

Dodaj możliwości analityczne mikroskopu ramanowskiego inVia do funkcji skaningowego mikroskopu elektronowego za pomocą ramanowskiego interfejsu SEM-SCA firmy Renishaw. Użyj skaningowego mikroskopu elektronowego do rejestrowania wysokiej rozdzielczości obrazów próbki i przeprowadź analizę elementarną za pomocą promieni RTG. Dodaj zdolność identyfikowania przez systemy Ramana materiałów i związków niemetali nawet o tej samej stechiometrii.

Test twardości w skali nano: pomiary właściwości mechanicznych

Wykonuj pomiary w celu bezpośredniego skorelowania właściwości mechanicznych uzyskanych w teście twardości z kompleksową analizą ramanowską w miejscu.

CLSM: obrazy konfokalne

Jeśli masz próbki o złożonej strukturze trójwymiarowej (np. komórki biologiczne), możesz dołączyć konfokalny laserowy mikroskop skaningowy (CLSM) do mikroskopu inVia i skorelować konfokalne obrazy fluorescencyjne z chemicznymi obrazami ramanowskimi.

Razem można więcej

Korelacyjne techniki obrazowania pozwalają na zapoznanie się z ukrytymi informacjami. W celu uzyskania więcej informacji na temat łączenia mikroskopu inVia z innymi systemami analitycznymi skontaktuj się z nami.

Dowiedz się więcej!

Przeczytaj artykuł zamieszczony w magazynie Microscopy and Analysis Journal

Poniższy artykuł został opublikowany w kwietniu 2015 roku; zamieszczono go tu dzięki zgodzie Microscopy and Analysis Journal/Wiley.

Przeczytaj artykuł