Systemy połączone/hybrydowe Ramana
Zwiększ wydajność analityczną mikroskopu inVia firmy Renishaw, łącząc go z systemami analitycznymi wielu innych producentów.
Maksymalizuj wydajność, analizując próbkę dwiema lub więcej technikami bez przenoszenia próbki między przyrządami. Dzięki systemom skorelowanych mikroskopów możesz zawsze mieć pewność, że w obu technikach analizujesz zawsze ten sam punkt.
SPM/AFM: rozdzielczość nanometrów
Połącz mikroskop inVia z mikroskopem z sondą skanującą (SPM), jak np. mikroskopem sił atomowych (AFM), w celu badania właściwości chemicznych i strukturalnych materiałów. Dodaj rozdzielczość chemiczną w skali nanometrowej wraz z badaniami TERS i odkryj informacje uzupełniające, jak np. właściwości mechaniczne.
SEM: obrazy w dużym powiększeniu oraz analiza elementarna
Dodaj możliwości analityczne mikroskopu ramanowskiego inVia do funkcji skaningowego mikroskopu elektronowego za pomocą ramanowskiego interfejsu SEM-SCA firmy Renishaw. Użyj skaningowego mikroskopu elektronowego do rejestrowania wysokiej rozdzielczości obrazów próbki i przeprowadź analizę elementarną za pomocą promieni RTG. Dodaj zdolność identyfikowania przez systemy Ramana materiałów i związków niemetali nawet o tej samej stechiometrii.
Test twardości w skali nano: pomiary właściwości mechanicznych
Wykonuj pomiary w celu bezpośredniego skorelowania właściwości mechanicznych uzyskanych w teście twardości z kompleksową analizą ramanowską w miejscu.
CLSM: obrazy konfokalne
Jeśli masz próbki o złożonej strukturze trójwymiarowej (np. komórki biologiczne), możesz dołączyć konfokalny laserowy mikroskop skaningowy (CLSM) do mikroskopu inVia i skorelować konfokalne obrazy fluorescencyjne z chemicznymi obrazami ramanowskimi.
Razem można więcej
Korelacyjne techniki obrazowania pozwalają na zapoznanie się z ukrytymi informacjami. W celu uzyskania więcej informacji na temat łączenia mikroskopu inVia z innymi systemami analitycznymi skontaktuj się z nami.
Dowiedz się więcej!
Przeczytaj artykuł zamieszczony w magazynie Microscopy and Analysis Journal
Poniższy artykuł został opublikowany w kwietniu 2015 roku; zamieszczono go tu dzięki zgodzie Microscopy and Analysis Journal/Wiley.