Application note: Particle analysis of trace fingerprint residue (pdf)
Rozmiar pliku: 1,34 MB
Język: English
Numer części: AN233(EN)-01-A
Details of how the inVia™ Qontor© confocal Raman microscope and Particle Analysis software module were used to analyse traces of material in fingerprint residues.
Ten typ pliku wymaga przeglądarki dostępnej bezpłatnie w witrynie Adobe
Inne języki
日本語Nie znalazłeś szukanej pozycji?
powiedz, czego nie mogłeś znaleźć, a my postaramy się pomóc