Sondy i oprogramowanie dla obrabiarek
Rozwiązania pomiarowe Renishaw mogą pomóc w skróceniu czasów ustawiania aż o 90% oraz w poprawie kontroli procesu.
Firma Renishaw oferuje rozwiązania do ustawiania narzędzi, wykrywania uszkodzeń narzędzi, ustawiania przedmiotu obrabianego, pomiarów wykonywanych podczas skrawania i do kontroli pierwszej części, z automatyczną aktualizacją offsetów.
W jaki sposób i gdzie używa się sond
Pomiary za pomocą sond są powszechnie stosowane w celu poprawy efektywności, jakości oraz dokładności w obrabiarkach. Standardowe procedury wbudowane w nowoczesnych sterownikach CNC upraszczają integrowanie cykli pomiarowych w operacjach obróbki maszynowej i narzędziach offline. Te procedury w połączeniu z interfejsem CAD ułatwiają symulowanie funkcji pomiarowych.
Firma Renishaw oferuje rozwiązania do ustawiania narzędzi, wykrywania uszkodzeń narzędzi, ustawiania przedmiotu obrabianego, pomiarów wykonywanych podczas skrawania i do kontroli pierwszej części, z automatyczną aktualizacją offsetów.
Literatura
-
Publikacja: Kontrola procesu produkcji warunkiem utrzymania konkurencyjnej pozycji firmy
Wielu producentów szuka sposobów na obniżenie kosztów produkcji, równocześnie nie jest w stanie pozwolić sobie na zakup bardziej wydajnego wyposażenia. Jakie są zatem możliwości radykalnego obniżenia kosztów bez wymiany maszyn? Niniejszy artykuł przedstawia cztery obszary, w których firmy gotowe zmienić sposób kontroli procesu produkcji, mogą odnaleźć oszczędności.
-
Przewodnik kieszonkowy: Rozwiązania - Zapewniają poprawę jakości obróbki oraz wzrost wydajności
Rozwiązania do sterowania procesami
-
Technical specifications: Probing systems for CNC machine tools [en]
The type of probing system that you need will depend on your machine tool and the nature of the probing application. This document focuses on the main applications for probing on machine tools. It contains an introduction to the use of probing for each application, plus guidance on the selection of the most appropriate system and technical information about each probe.
