Ramanowski mikroskop konfokalny inVia™
Konfokalny mikroskop ramanowski klasy badawczej zapewnia wyjątkową wydajność i najlepsze dane w najkrótszym czasie.
Cechuje się prostotą obsługi, zapewniając przy tym wysoką wydajność i wiarygodne wyniki, nawet w wypadku najbardziej wymagających badań. Uzyskaj bogate w szczegóły obrazy chemiczne oraz rzetelne dane z dyskretnych punktów. Naukowcy oraz inżynierowie na całym świecie zaufali niezrównanej elastyczności mikroskopu inVia.
Właściwości
Mikroskop inVia składa się z mikroskopu klasy badawczej połączonego ze spektrometrem ramanowskim o wysokiej wydajności. Cechuje się prostotą obsługi, zapewniając przy tym doskonałe parametry robocze, wysoką rozdzielczość widmową i wysoką stabilność, wiarygodne wyniki, nawet w wypadku najbardziej wymagających badań.
Konstrukcja układu optycznego mikroskopu inVia o wysokiej sprawności pozwala na uzyskanie danych Ramana wysokiej jakości nawet ze śladowych ilości materiałów. Jeśli potrzebujesz w łatwy i niezawodny sposób uzyskać zarówno szczegółowe obrazy chemiczne, jak i wysoce swoiste dane z pojedynczych punktów, to mikroskop inVia jest idealnym systemem.
Aby uzyskać bardziej szczegółowe informacje, pobierz broszurę na temat mikroskopu inVia.
Szybkość i czułość
Wysoka czułość pozwala na wykrycie słabych sygnałów Ramana i szybką analizę materiałów śladowych, monowarstw i słabych sygnałów rozproszonych. W przyrządzie wykorzystano stygmatyczną konstrukcję optyczną, która zapewnia doskonałe parametry robocze, dobre odrzucanie światła rozproszonego i niezrównaną czułość.
Wysoka rozdzielczość przestrzenna
Konstrukcja układu optycznego pozwala na osiągnięcie wysokiego poziomu konfokalności (możliwości tłumienia sygnału z obszarów leżących poza punktem zainteresowania). Daje to pewność uzyskania wysokiej stabilności i możliwie najwyższej rozdzielczości przestrzennej, która jest ograniczona tylko wartością graniczną załamania światła.
Wysoka wydajność widmowa
Mikroskop mierzy cechy widmowe węższe niż 0,5 cm-1 i rozróżnia zbliżone pasma Ramana, a dzięki temu rozróżniać bardzo podobne materiały, jak np. polimorfy farmaceutyczne. Wysoka stabilność pozwala na monitorowanie bardzo małych zmian w położeniu pasma Ramana (już od 0,02 cm-1).
Wyjątkowa stabilność
Specjalnie zaprojektowana podstawa kinematyczna ma strukturę plastra miodu. Są na niej ustawione w sposób takie podzespoły, jak mikroskop inVia mikroskop i lasery, zaś stabilność całej konstrukcji sprawia, że nie trzeba używać stołu optycznego lub antywibracyjnego. Kluczowe ruchome podzespoły wyposażono w bardzo precyzyjne przetworniki firmy Renishaw.
Elastyczność widmowa
Mikroskop inVia można skonfigurować tak, aby optymalnie analizować próbki. Obsługuje on wiele laserów z automatycznym, sterowanym komputerowo przełączaniem. Można szybko zmieniać długość fali wzbudzenia, a także szybko i niezawodnie określać najlepsze kombinacje w celu uzyskania najlepszych danych z posiadanych próbek.
Elastyczność próbkowania
inVia obsługuje zarówno mikroskopy klasy badawczej pionowe, odwrócone i otwarte, jak i sondy światłowodowe do zdalnej analizy na dużych odległościach. Jest on kompatybilny z szeroką gamą obiektywów i komór środowiskowych, umożliwiając analizę próbek w różnych warunkach środowiskowych.
Zastosowania
Badania w farmaceutyce
W wypadku wielu składników i właściwości bardzo pożądane jest określenie składu, wielkości domeny i dystrybucji dostępnych na rynku preparatów, dla których wygasła ochrona patentowa. Mikroskop inVia zapewnia doskonałą swoistość i czułość chemiczną, generując szczegółowe obrazy chemiczne dla szerokiego zakresu preparatów.
Badanie polimerów
Mikroskop ramanowski inVia zapewnia swoistość i czułość chemiczną, w sposób nieniszczący, bez konieczności manipulowania i przygotowywania próbki. Jest to ważne w badaniach nad polimerami, ponieważ poszukujemy nowych materiałów, poprawiamy efektywność istniejących materiałów i obniżamy koszty produktów.
Utrzymaj ostrość w czasie
rzeczywistym dzięki funkcji LiveTrack
W mikroskopie inVia zastosowano technologię automatycznego śledzenia ostrości LiveTrack™ do zbierania — w czasie rzeczywistym — dokładnych i powtarzalnych widm i topografii próbek o dużych różnicach w wysokości. Uzyskuj doskonałe obrazy 3D nierównych, zakrzywionych lub chropowatych powierzchni bez konieczności wstępnego skanowania. Obejrzyj film wideo z przykładową próbką.
Chcesz dowiedzieć się więcej?
Lokalny przedstawiciel pomoże znaleźć odpowiedzi na zadane pytania.
Możesz skontaktować się z zespołem, wypełniając formularz lub wysyłając wiadomość e-mail.
Zapoznaj się z najnowszymi informacjami
Bądź na bieżąco z naszymi najnowszymi innowacjami, innowacjami, zastosowaniami i wprowadzanymi na rynek produktami. Otrzymuj aktualizacje bezpośrednio na swoją skrzynkę pocztową.
Do pobrania: ramanowski mikroskop inVia
-
Brochure: inVia confocal Raman microscope [en]
Renishaw inVia: The world's best selling high-performance Raman microscope
-
Product note: Centrus detector [en]
At the heart of Renishaw’s Raman systems, Centrus is more than just a detector; it is key to the implementation of advanced Renishaw technologies
-
Product note: inVia Qontor confocal Raman microscope [en]
The inVia™ Qontor® confocal Raman microscope is a flexible research-grade instrument with unique real-time focus tracking capabilities.
-
Product note: MS30 high speed encoded stage [en]
The MS30 high speed encoded stage is a high performance, optically encoded, motorised sample stage for use with Renishaw’s Raman systems.
-
Product note: Inverted microscopes for inVia [en]
Renishaw's inVia Raman spectrometers can be equipped with inverted microscopes instead of, or in addition to, the standard upright microscopes.
-
Technical note: LiveTrack focus-tracking technology [en]
LiveTrack focus-tracking technology maintains optimum focus for both white light and Raman imaging to give stunning 3D images.
Dane techniczne
Oferujemy trzy modele mikroskopu inVia — od flagowego systemu inVia Qontor z pełną automatyką i techniką śledzenia ostrości do podstawowej wersji inVia Basis.Parametr | Wartość | |
| Zakres długości fal | od 200 nm do 2200 nm | |
| Obsługiwane lasery | od 229 nm do 1064 nm | |
| Rozdzielczość widmowa | 0,3 cm-1 (FWHM) | Najwyższa standardowo wymagana: 1 cm-1 |
| Stabilność | < ±0,01 cm-1 | Zmienność częstotliwości środkowej pasma Si 520 cm-1 dopasowanego do krzywej, po powtarzanych pomiarach. Uzyskana za pomocą rozdzielczości widmowej 1 cm-1 lub wyższej |
| Odcięcie przy niskiej liczbie falowej | 5 cm-1 | Najniższa standardowo wymagana: 100 cm-1 |
| Odcięcie przy wysokiej liczbie falowej | 30 000 cm-1 | Standardowo: 4 000 cm-1 |
| Rozdzielczość przestrzenna (poprzeczna) | 0,25 µm | Standardowo: 1 µm |
| Rozdzielczość przestrzenna (osiowa) | < 1 µm | Standardowo: < 2 µm. Zależnie od obiektywu i lasera |
| Rozmiar detektora (standardowo) | 1024 pikseli × 256 pikseli | Inne dostępne opcje |
| Temperatura robocza detektora | -70°C | |
| Obsługiwane filtry Rayleigha | Bez ograniczeń | Maks. cztery zestawy filtrów w automatycznym mocowaniu. Nieograniczona dodatkowe zestawy filtrów obsługiwane precyzyjne gniazdo kinematyczne przełączane przez użytkownika |
| Liczba obsługiwanych laserów | Bez ograniczeń | Jeden standardowo. Dodatkowe lasery (więcej niż 4) wymagają mocowania na stole optycznym |
| Sterowanie z komputera z systemem Windows | Komputer z najnowszą wersją Windows ® | Obejmuje stację roboczą PC, monitor, klawiaturę i trackball. |
| Napięcie zasilania | Prąd przemienny o napięciu 100–240 V, +10% -15% | |
| Częstotliwość zasilania | 50 Hz lub 60 Hz | |
| Typowy pobór mocy (spektrometr) | 150 W | |
| Głębokość (podwójny system laserowy) | 930 mm | Podwójna płyta bazowa lasera |
| Głębokość (potrójny system laserowy) | 1116 mm | Potrójna płyta bazowa lasera |
| Głębokość (wersja miniaturowa) | 610 mm | Do trzech laserów (w zależności od typu lasera) |
| Typowa masa (bez laserów) | 90 kg |
Podgląd próbki | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Wyświetlanie stereo (okular dwuoczny) | ■ | ▲ | ▲ |
| Automatyczne wyświetlanie po zebraniu danych wraz z zapamiętaniem | - | ▲ | ▲ |
| Programowe sterowanie mikroskopem | - | ▲ | ▲ |
| Automatyczne przełączanie obrazu ramanowskiego/światła białego | - | ▲ | ▲ |
| Automatyczne zapisywanie obrazu światła białego wraz z danymi | - | ▲ | ▲ |
| Łączone wyświetlanie obrazu wideo: laserowego i przy białym świetle | - | ▲ | ▲ |
| Automatyczne ogniskowanie przy białym świetle (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Zbieranie danych ramanowskich | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Automatyczne kolejkowanie pomiarów | ▲ | ▲ | ▲ |
| Technika automatycznego śledzenia ostrości (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Sprawdzenie zestrojenia i działania | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Wewnętrzne źródło kalibracji, długość fali neonu | - | ▲ | ▲ |
| Wewnętrzne wzorce odniesienia do automatycznej kalibracji | - | ▲ | ▲ |
| Automatyczna korekta kalibracji ramanowskiej (szybka kalibracja) | ▲ | ▲ | ▲ |
| Automatyczne zestrojenie lasera | ▲ | ▲ | ▲ |
| Automatyczne zestrojenie sygnału Ramana | ▲ | ▲ | ▲ |
| Kontrola stanu technicznego (działania) | - | ▲ | ▲ |
Legenda
| – niedostępna | ■ opcja | ▲ w zestawie |